JavaScript seems to be disabled in your browser. For the best experience on our site, be sure to turn on Javascript in your browser.
Używamy niezbędnych plików cookie do działania sklepu. Za Twoją zgodą możemy też używać plików analitycznych. Więcej informacji znajdziesz w polityce prywatności.
Logowanie klienta
Checkout using your account
Ten formularz jest chroniony przez reCAPTCHA. Obowiązują Polityka prywatności Google oraz Warunki korzystania z usług Google.
Checkout as a new customer
Creating an account has many benefits:
Pozycje 301–310 z 472
Kamera mikroskopowa Moticam S1 jest podstawowym modelem wyposażonym w nowej generacji sensor sCMOS. Wysoka czułość oraz przesłona rolująca pozwalają na uchwycenie zjawisk szybkozmiennych lub niskim oświetleniu. Kamera pozwala na przechwytywanie do 240 klatek na sekundę
Wysokogatunkowe dyski ścierne diamentowe SCAN-DIA do szlifowania próbek metalograficznych. Dostępne w trzech rozmiarach, o rożnej gradacji. Szczególnie polecane przy szlifowaniu materiałów twardych. Z uwagi na grubą warstwę ścierną charakteryzują się niezwykle długim czasem pracy.
Kamera mikroskopowa Moticam S20 jest najlepszym wyborem jeżeli przechwytywane zdjęcia będą wykorzystywane do druku bądź wyświetlania na bardzo dużych powierzchniach (projektory, tablice interaktywne). Przy szybkości przechwytywania 18 fps kamera S20 oferuje największy wolumen obrazu.
Miernik wielofunkcyjny laboratoryjny CX-505
Wyposażenie standardowe
Wysokogatunkowe folie ścierne diamentowe SCAN-DIA do szlifowania próbek metalograficznych. Dostępne w trzech rozmiarach, o rożnej gradacji. Szczególnie polecane przy szlifowaniu materiałów twardych. Są ekonomiczną alternatywą dla papierów ściernych SiC.
Sukna polerskie przeznaczone do efektywnego polerowania końcowego. Dostępne w systemie mocowana magnetycznego (z powierzchnią magnetyczną) lub samoprzylepnego.
Nowe rozwiązanie do poboru różnorodnych próbek materiałów sypkich wykonany ze stali nierdzewnej AISI316. Pobór następuje przez obrót rączki próbnika wokół osi pionowej, co powoduje zamknięcie komory.
Mikroskop metalograficzny GX53 w układzie odwróconym do prowadzenia obserwacji w polu jasnym, polu ciemnym, prostej polaryzacji i kontraście interferencyjnym DIC w świetle odbitym. Możliwy również tryb MIX. Przeznaczony do badań naukowych i najbardziej wymagających analiz w laboratoriach technicznych.