JavaScript seems to be disabled in your browser. For the best experience on our site, be sure to turn on Javascript in your browser.
Używamy niezbędnych plików cookie do działania sklepu. Za Twoją zgodą możemy też używać plików analitycznych. Więcej informacji znajdziesz w polityce prywatności.
Logowanie klienta
Checkout using your account
Ten formularz jest chroniony przez reCAPTCHA. Obowiązują Polityka prywatności Google oraz Warunki korzystania z usług Google.
Checkout as a new customer
Creating an account has many benefits:
Pozycje 241–250 z 416
Wyposażenie standardowe
Wielofunkcyjny pehametr / jonometr o bardzo wysokiej dokładności, umożliwia pomiary pH, potencjału redox, jonów i temperatury.
Mikroskop metalograficzny odwrócony trinokularowy z wysokiej klasy optyką planachromatyczną CCIS z korekcją do nieskończoności. Obiektywy wykonane ze szkła bezołowiowego klasy LM PL
Mikroskop Olympus SZX-16 pracujący w systemie Galileo należy do najwyższej klasy badawczych mikroskopów stereoskopowych. Zapewnia bardzo wysoką rozdzielczość, dużą głębię ostrości i doskonałe odwzorowanie szczegółów. Zastosowanie mikroskopu to laboratoria badawcze na uczelniach i w przemyśle wymagające dokładności pomiarów i odwzorowania szczegółów.
Waga precyzyjna Adventurer II AX przeznaczona jest głównie do zastosowań w laboratoriach, przemyśle. Waga posiada solidną obudowę, nóżki poziomujące, pozwala na prostą obsługę poprzez kolorowy dotykowy wyświetlacz LCD o wielkości 4,3" oraz cztery przyciski operacyjne, intuicyjny interfejs, 18 różnych jednostek masy, hak do ważenia pod wagą, 9 aplikacji, port USB, wyjście RS232 oraz zasilanie poprzez zasilacz lub baterie.
Na stanie
Próbnik silosowy sprawdza się przy pobieraniu z większych głębokości prób niezbrylonych proszków oraz granulatów. Mocna rękojeść oraz pręty przedłużające, zostały zaprojektowane do pracy pod dużymi obciążeniami. Próbki można pobierać z głębokości do 6m.
Miernik wielofunkcyjny laboratoryjny CX-505
Mikroskop metalograficzny GX53 w układzie odwróconym do prowadzenia obserwacji w polu jasnym, polu ciemnym, prostej polaryzacji i kontraście interferencyjnym DIC w świetle odbitym. Możliwy również tryb MIX. Przeznaczony do badań naukowych i najbardziej wymagających analiz w laboratoriach technicznych.