Wyniki wyszukiwania dla: „25 15 01 5 5 5 5 5”

Mikroskop badawczy dolnostolikowy do prowadzenia obserwacji w polu jasnym, polu ciemnym, mieszanym (MIX), prostej polaryzacji, kontraście interferencyjnym, fluorescencji oraz IR w świetle odbitym oraz w polu jasnym i prostej polaryzacji w świetle przechodzącym. Przeznaczony do pracy w laboratoriach technicznych i naukowych. Posiada oświetlenie LED o mocy odpowiadającej 100W lampie halogenowej, możliwość podłączenia kamery, prowadzenia pomiarów morfometrycznych i analizy obrazu. Obiektywy plan semi-apochromatyczne. Zakres powiększeń 12.5x-1000x. Okulary 10x FN22 lub FN26.5. Stolik mechaniczny duży.

• obiektywy:  1.25x, 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x
• obserwacje: pole jasne BF, pole ciemne DF, prosta polaryzacja, kontraście interferencyjnym DIC, fluorescencji oraz IR
• światło przechodzące i odbite
• oświetlenie: LED (opcjonalnie halogen 100W)
• kamera: Tak
• zastosowanie: laboratoryjne, badawcze

Wysokowydajne narzędzie złożone z oprogramowania i systemu mikroskopowego, przeznaczone do akwizycji i zliczania w trybie rzeczywistym obrazów zanieczyszczeń stałych na filtrach membranowych. System oświetlenia umożliwia odróżnienie światła odbitego od przechodzącego. Zanieczyszczenia są automatycznie klasyfikowane wg. kryteriów rozmiaru, zgodnie z wybraną normą. Oprogramowanie zawiera bazę wszystkich znaczących międzynarodowych standardów stosowanych w przemyśle motoryzacyjnym, lotniczym i kosmicznym. Możliwe jest również tworzenie własnych norm.

• rozmiar filtra: do 47mm
• automatyczna, zmotoryzowana oś Z
• pomiar wysokości wybranych cząstek
• zmotoryzowany stolik i rewolwer z 3 obiektywami UIS2: PLAPON 1.25X, MPLFLN 5X, MPLFLN 10X
• wbudowane oświetlenie LED do jednoczesnego wykrywania cząstek odblaskowych i nieodblaskowych
• kamera kolorowa CMOS
• baza norm: ISO 11218:1993; ISO 14952; ISO 16232-10; ISO 21018; ISO4406:1999; ISO4407:1991; ISO12345:2013; NAS 1638-01; NF E48-651:1986; NF E48-655:1989; SAE AS4059E + normy własne
• pełna zgodność z rekomendacjami VDA19:2016
• identyfikacja grupy zanieczyszczeń: włókno, zanieczyszczenie odbijające światło, włókno odbijające światło itp.
• zaawansowane raportowanie do MS2016

Mikroskop metalograficzny GX53 w układzie odwróconym do prowadzenia obserwacji w polu jasnym, polu ciemnym, prostej polaryzacji i kontraście interferencyjnym DIC w świetle odbitym. Możliwy również tryb MIX. Przeznaczony do badań naukowych i najbardziej wymagających analiz w laboratoriach technicznych.

• obiektywy: 5x, 10x, 20x, 50x, 100x
• obserwacje: pole jasne, pole ciemne, kontrast Nomarskiego (DIC)
• oświetlenie: LED / halogenowe 100W / lampa rtęciowa 100W
• kamera: TAK
• zastosowanie: badawcze i laboratoryjne