JavaScript seems to be disabled in your browser. For the best experience on our site, be sure to turn on Javascript in your browser.
Używamy niezbędnych plików cookie do działania sklepu. Za Twoją zgodą możemy też używać plików analitycznych. Więcej informacji znajdziesz w polityce prywatności.
Logowanie klienta
Checkout using your account
Ten formularz jest chroniony przez reCAPTCHA. Obowiązują Polityka prywatności Google oraz Warunki korzystania z usług Google.
Checkout as a new customer
Creating an account has many benefits:
Pozycje 61–70 z 112
Wysokogatunkowy papier ścierny samoprzylepny SCAN-DIA do szlifowania na mokro próbek metalograficznych. Dostępny w trzech rozmiarach, o rożnej gradacji.
Wysokogatunkowe folie ścierne diamentowe SCAN-DIA do szlifowania próbek metalograficznych. Dostępne w trzech rozmiarach, o rożnej gradacji. Szczególnie polecane przy szlifowaniu materiałów twardych. Są ekonomiczną alternatywą dla papierów ściernych SiC.
Wysokogatunkowe dyski ścierne diamentowe SCAN-DIA do szlifowania próbek metalograficznych. Dostępne w trzech rozmiarach, o rożnej gradacji. Szczególnie polecane przy szlifowaniu materiałów twardych. Z uwagi na grubą warstwę ścierną charakteryzują się niezwykle długim czasem pracy.
Mikroskop metalograficzny - inspekcyjny trinokularowy - specjalna wersja ze statywem pozwalającym na badanie większych próbek (ta wersja stanowi wygodną alternatywę dla mikroskopów metalograficznych górnostolikowych).
Mikroskop, podobnie jak cała seria do której należy, posiada wysokiej klasy optykę planachromatyczną CCIS z korekcją nieskończoności i obiektywami wykonanymi ze szkła bezołowiowego.
Mikroskop badawczy przeznaczony do badań biologicznych i medycznych, charakteryzuje się budową modułową z bardzo bogatą ofertą podzespołów. Oferuje optykę UIS-2; planachromatyczną, bądź najwyższej klasy typu semi-planapochromatyczną. Możliwe jest zainstalowanie zestawu do EPI-fluorescencji z 6-pozycyjnym karuzelowym zmieniaczem luster, czy też prowadzenie obserwacji w kontraście fazowym. Uniwersalność i niezawodność czynią ten mikroskop atrakcyjnym dla osób wymagających najwyższej jakości obrazu i dokładności wyników.
Mikroskop metalograficzny GX53 w układzie odwróconym do prowadzenia obserwacji w polu jasnym, polu ciemnym, prostej polaryzacji i kontraście interferencyjnym DIC w świetle odbitym. Możliwy również tryb MIX. Przeznaczony do badań naukowych i najbardziej wymagających analiz w laboratoriach technicznych.
Mikroskop metalograficzny odwrócony trinokularowy z wysokiej klasy optyką planachromatyczną CCIS z korekcją do nieskończoności. Obiektywy wykonane ze szkła bezołowiowego klasy LM PL
Oświetlacz światłowodowy Photonic F1, z wydajnym źródłem światła LED. Konstrukcja zapewnia cichą pracę, bez wymuszonego obiegu powietrza. Brak układu wentylatorowego oznacza brak wibracji, co przekłada się na stabilny obraz w mikroskopie.
Komora Thoma do badania stężenia komórek, drobnoustrojów lub zarodników.
