JavaScript seems to be disabled in your browser. For the best experience on our site, be sure to turn on Javascript in your browser.
Używamy niezbędnych plików cookie do działania sklepu. Za Twoją zgodą możemy też używać plików analitycznych. Więcej informacji znajdziesz w polityce prywatności.
Logowanie klienta
Checkout using your account
Ten formularz jest chroniony przez reCAPTCHA. Obowiązują Polityka prywatności Google oraz Warunki korzystania z usług Google.
Checkout as a new customer
Creating an account has many benefits:
Pozycje 61–70 z 113
Mikroskop metalograficzny odwrócony trinokularowy z wysokiej klasy optyką planachromatyczną CCIS z korekcją do nieskończoności. Obiektywy wykonane ze szkła bezołowiowego klasy LM PL
Mikroskop metalograficzny GX53 w układzie odwróconym do prowadzenia obserwacji w polu jasnym, polu ciemnym, prostej polaryzacji i kontraście interferencyjnym DIC w świetle odbitym. Możliwy również tryb MIX. Przeznaczony do badań naukowych i najbardziej wymagających analiz w laboratoriach technicznych.
Wysokogatunkowe folie ścierne diamentowe SCAN-DIA do szlifowania próbek metalograficznych. Dostępne w trzech rozmiarach, o rożnej gradacji. Szczególnie polecane przy szlifowaniu materiałów twardych. Są ekonomiczną alternatywą dla papierów ściernych SiC.
Wysokogatunkowe dyski ścierne diamentowe SCAN-DIA do szlifowania próbek metalograficznych. Dostępne w trzech rozmiarach, o rożnej gradacji. Szczególnie polecane przy szlifowaniu materiałów twardych. Z uwagi na grubą warstwę ścierną charakteryzują się niezwykle długim czasem pracy.
Wysokowydajne oświetlacze punktowe pojedyncze, podwójne oraz typu SPOT. Wolnostojące lub mocowane do mikroskopu.
Mikroskop badawczy dolnostolikowy do prowadzenia obserwacji w polu jasnym, polu ciemnym, prostej polaryzacji i kontraście interferencyjnym w świetle odbitym oraz w polu jasnym w świetle przechodzącym. Przeznaczone do pracy w laboratoriach technicznych i naukowych. Posiada oświetlenie halogenowe 100W, możliwość podłączenia kamery, prowadzenia pomiarów morfometrycznych i analizy obrazu. Obiektywy plan semi-apochromatyczne. Zakres powiększeń 50x-1000x. Okulary 10x FN25. Stolik mechaniczny powiększony.
Komora Thoma do badania stężenia komórek, drobnoustrojów lub zarodników.
Wydajny oświetlacz pierścieniowy strefowy, montowany na dolną część obiektywu mikroskpów stereoskopowych. Daje bardzo równomierne, pozbawione efektów migotania, zimne, bezcieniowe światło. Oświetlacz montowany jest na obiektyw za pomocą 3 śrub mocujących.
Zmotoryzowany mikroskop badawczy dolnostolikowy, do prowadzenia obserwacji w polu jasnym, polu ciemnym, prostej polaryzacji i kontraście interferencyjnym w świetle odbitym oraz w polu jasnym w świetle przechodzącym (zależnie od wersji). Przeznaczone do pracy w laboratoriach technicznych i naukowych. Posiada oświetlenie halogenowe 100W. W zestawie kamera Lusis HC-20CU i oprogramowanie Panasis 3D Profiler do prowadzenia pomiarów morfometrycznych, profilowania 3D i analizy obrazu. Obiektywy plan semi-apochromatyczne. Zakres powiększeń 50x-1000x. Okulary 10x FN25. Stolik mechaniczny powiększony.