JavaScript seems to be disabled in your browser. For the best experience on our site, be sure to turn on Javascript in your browser.
Używamy niezbędnych plików cookie do działania sklepu. Za Twoją zgodą możemy też używać plików analitycznych. Więcej informacji znajdziesz w polityce prywatności.
Logowanie klienta
Checkout using your account
Ten formularz jest chroniony przez reCAPTCHA. Obowiązują Polityka prywatności Google oraz Warunki korzystania z usług Google.
Checkout as a new customer
Creating an account has many benefits:
Pozycje 21–30 z 49
Mikroskop badawczy dolnostolikowy do prowadzenia obserwacji w polu jasnym, polu ciemnym, prostej polaryzacji i kontraście interferencyjnym w świetle odbitym oraz w polu jasnym w świetle przechodzącym. Przeznaczone do pracy w laboratoriach technicznych i naukowych. Posiada oświetlenie halogenowe 100W, możliwość podłączenia kamery, prowadzenia pomiarów morfometrycznych i analizy obrazu. Obiektywy plan semi-apochromatyczne. Zakres powiększeń 50x-1000x. Okulary 10x FN25. Stolik mechaniczny powiększony.
Mikroskopy serii BA-210E wyposażone są w czwartej generacji optykę z korekcją nieskończoności - klasy CCIS® (Color Correction Infinity System).Powiększenia standardowe wynoszą 40x do 1000x (do 2000x przy wyposażeniu dodatkowym). Posiadają unikalny, wymienny oświetlacz pozwalający na instalowanie źródła halogenowego 6V/30W lub LED 3W.
Mikroskop badawczy dolnostolikowy do prowadzenia obserwacji w polu jasnym, polu ciemnym, mieszanym (MIX), prostej polaryzacji, kontraście interferencyjnym, fluorescencji oraz IR w świetle odbitym oraz w polu jasnym i prostej polaryzacji w świetle przechodzącym. Przeznaczony do pracy w laboratoriach technicznych i naukowych. Posiada oświetlenie LED o mocy odpowiadającej 100W lampie halogenowej, możliwość podłączenia kamery, prowadzenia pomiarów morfometrycznych i analizy obrazu. Obiektywy plan semi-apochromatyczne. Zakres powiększeń 12.5x-1000x. Okulary 10x FN22 lub FN26.5. Stolik mechaniczny duży.
Mikroskop odwrócony AE-31ET idealny do prac badawczych i klinicznych. Optyka CCIS -Plan oraz i PL-PH zapewnia doskonały, kontrastowy i płaski obraz. Obiektywy długodystansowe LWD są odporne na przypadkowe zalanie. Mikroskop wyposażono w funkcje "Auto off " z czujnikiem IR oraz funkcję LM (Light Memory) w pamięć ustawień intensywności oświetlenia dla każdego obiektywu. W mikroskopie zastosowano nowej klasy obiektywy kontrastowo fazowe współpracjące z jedną wsuwką do kondensora. Funkcje te ułatwiają i przyspieszają pracę. Konstrukcja mikroskopu tak jak w jego poprzedniku umożliwia rozbudowę o zestaw do epifluorescencji
Dostępne wersje:
Nowatorski system optyczny kieruje oświetlenie bezpośrednio w tor optyczny mikroskopu, dając doskonałej jakości, całkowicie bezcieniowy obraz.
Oświetlacz VI-LED stanowi idealne rozwiązanie do oświetlenia preparatów oglądanych pod mikroskopem stereoskopowym.
BA-310/ 313POL wersja 1 i 2 to profesjonalne mikroskopy o budowie modułowej do badań petrograficznych właściwości skał i geometrycznej struktury powierzchni spękań. Mikroskopy posiadają najwyższej klasy optykę beznaprężeniową „strain free” klasy EC-PL z korekcją na nieskończoność PLAN-achromatyczną typu CCIS (Color Correction Infinity System).
Precyzyjna przecinarka metalograficzna o niskiej prędkości obrotowej, pozwalająca na uzyskanie gładkiej powierzchni cięcia przy minimalnych deformacjach. W zależności od zastosowanej tarczy pozwala na cięcie próbek z metalu, żeliwa lub ceramiki, oraz materiałów miękkich. Maksymalna średnica ciętego materiału wynosi 20mm. Prędkość obrotowa może być bezstopniowo regulowana z zakresie 50 do 980 obr/min. Jednostką napędową jest silnik o mocy 80W z przeniesieniem napędu za pomocą paska zębatego. Ramię uchwytu próbki pozwala na instalowanie różnych uchwytów.
Tarcze tnące CBN, szczególnie polecane do stali, węglików, żeliwa. CBN (azotek boru) jest po diamencie drugim najtwardszym materiałem ściernym.
Mikroskop metalograficzny GX53 w układzie odwróconym do prowadzenia obserwacji w polu jasnym, polu ciemnym, prostej polaryzacji i kontraście interferencyjnym DIC w świetle odbitym. Możliwy również tryb MIX. Przeznaczony do badań naukowych i najbardziej wymagających analiz w laboratoriach technicznych.